133 935
правок
Дунаевский Григорий Ефимович: различия между версиями
Перейти к навигации
Перейти к поиску
Дунаевский Григорий Ефимович (посмотреть исходный код)
Версия от 03:54, 18 ноября 2011
, 18 ноября 2011нет описания правки
Pvp (обсуждение | вклад) (Новая страница: «'''Дунаевский Григорий Ефимович''' (р. 20 сентября 1946г., г. Мариуполь) [1; 54] - проректор по науч...») |
Pvp (обсуждение | вклад) Нет описания правки |
||
| Строка 34: | Строка 34: | ||
Один из ведущих специалистов в области радиофизической диагностики, является автором более 120 работ в отечественной и зарубежной печати. Под его руководством создано новое научное направление -квазиоптическая бесконтактная радиоволновая диагностика, создан ряд уникальных по чувствительности и быстродействию измерительных и контролирующих устройств, внесенных в справочную литературу по неразрушающему контролю и отмеченных медалями и дипломами отечественных и зарубежных выставок. [3] | Один из ведущих специалистов в области радиофизической диагностики, является автором более 120 работ в отечественной и зарубежной печати. Под его руководством создано новое научное направление -квазиоптическая бесконтактная радиоволновая диагностика, создан ряд уникальных по чувствительности и быстродействию измерительных и контролирующих устройств, внесенных в справочную литературу по неразрушающему контролю и отмеченных медалями и дипломами отечественных и зарубежных выставок. [3] | ||
В СФТИ Д. | В СФТИ Д. возглавил новое направление в прикладной радиофизике, связанное с разработкой и применением т.н. квазиоптических устройств в технике миллиметровых и субмиллиметровых длин волн. Основными результатами этой работы было создание новых высокочувствительных методов и устройств бесконтактной радиоволновой диагностики и неразрушающего контроля. | ||
Впервые был создан квазиоптический прибор, позволяющий бесконтактно измерять диаметр сверхтонкого металлического провода (диаметром жилы порядка 1 мкм и менее) под слоем стеклянной изоляции, движущегося со скоростью до 1000 м/мин; показана также возможность бесконтактного контроля толщин тонкин полимерных пленок, контроля качества полупроводниковых материалов и материалов радиозащиты. Приборы, выполненные под его руководством, демонстрировались на ВДНХ СССР (измеритель диаметра микропровода ОР-3 отмечен тремя медалями ВДНХ), на международных выставках в Москве, Пловдиве, Брюсселе. [1; 54] | Впервые был создан квазиоптический прибор, позволяющий бесконтактно измерять диаметр сверхтонкого металлического провода (диаметром жилы порядка 1 мкм и менее) под слоем стеклянной изоляции, движущегося со скоростью до 1000 м/мин; показана также возможность бесконтактного контроля толщин тонкин полимерных пленок, контроля качества полупроводниковых материалов и материалов радиозащиты. Приборы, выполненные под его руководством, демонстрировались на ВДНХ СССР (измеритель диаметра микропровода ОР-3 отмечен тремя медалями ВДНХ), на международных выставках в Москве, Пловдиве, Брюсселе. [1; 54] | ||