Инверсионно-вольтамперометрический анализ микрообъектов, слоев кристаллов и пленок

Инверсионно-вольтамперометрический анализ микрообъектов, слоев кристаллов и пленок – научное направление в области аналитической химии, развитием которого в Томском политехническом институте занимался профессор кафедры аналитической химии А.А. Каплин.

В частности, предложенный А.А. Каплиным анализ технологических сред материалов микроэлектроники получил широкое распространение и применение в аналитической практике. Некоторые из приемов анализа легли в основу созданных им и его учениками инверсионно-вольтамперометрических методик (КХА-различных объектов, в том числе продуктов питания и товаров народного потребления.

Проводимые А.А. Каплиным исследования по развитию способов анализа сделали его конкурентноспособным к широко распространенным методом атомной абсорбции и атомноэмиссионной спектроскопии. При его непосредственном участии и под его руководством разработано 48 методик анализа материалов высокой частоты, кристаллов и пленок, большая часть из них использована в производстве, получены акты о внедренни на предприятиях в НИИ электронной и химической промышленности, цветной металлургии, сан.эпидстанции.

Литература

Гагарин А.В. Профессора Томского политехнического университета. Т.3, ч. 1. Томск: Изд-во ТПУ, 2005.