Инверсионно-вольтамперометрический анализ микрообъектов, слоев кристаллов и пленок: различия между версиями

В частности, предложенный А.А. Каплиным анализ технологических сред материалов микроэлектроники получил широкое распространение и применение в аналитической практике. Некоторые из приемов анализа легли в основу созданных им и его учениками инверсионно-вольтамперометрических методик (КХА-различных объектов, в том числе продуктов питания и товаров народного потребления.  

Проводимые А.А. Каплиным исследования по развитию способов анализа сделали его конкурентноспособным к широко распространенным методом атомной абсорбции и атомноэмиссионной спектроскопии. При его непосредственном участии и под его руководством разработано 48 методик анализа материалов высокой частоты, кристаллов и пленок, большая часть из них использована в производстве, получены акты о внедренни на предприятиях в НИИ электронной и химической промышленности, цветной металлургии, сан.эпидстанции.