Капранов Борис Иванович

Капранов Борис Иванович (р. 09.05.1941 г.) – доктор технических наук, ведущий эксперт Отделения контроля и диагностики Инженерной школы неразрушающего контроля и безопасности Томского политехнического университета.

Капранов Борис Иванович
Дата рождения:	09.05.1941 г.
Научная сфера:	физика
Место работы:	ТПУ
Учёная степень:	доктор технических наук
Учёное звание:	профессор
Альма-матер:	ТГУ

Биография

В 1970 г. окончил Томский государственный университет по специальности "Физика- электроника».

C 1962 г. – лаборант НИС.

С 1963 г. - ст. лаборант НИС.

С 1968 г. - инженер НИИ ЭИ.

С 1972 г. - старший менженер, руководитель группы, заместитель руководителя лаборатории, заведующий сектором, заведующий лабораторией НИИ интроскопии при ТПИ.

С 1986 г. - доцент кафедры физических методов и приборов качества (ФМПК) ТПУ.

В 2002 - 2018 гг. - профессор кафедры ФМПК.

С 2018 г. - ведущий эксперт Отделения контроля и диагностики.

Научная деятельность

Основное направление работ - использование обратно - рассеянного рентгеновского и гамма излучений для контроля объектов в условиях одностороннего доступа.

Тема докторской диссертации - томография с использованием комптоновского обратного рассеяния.

По результатам работ опубликовано более 60 научных трудов, получено 18 авторских свидетельств и патентов. Под его руководством создана серия приборов для контроля качества неметаллических материалов и покрытий, которые в настоящее время успешно используются на предприятиях аэрокосмической отрасли.

Награды

За большой вклад в развитие технологий контроля награждён Президиумом Федерации космонавтики России медалью им. академика Макеева В.П.

Ссылки

http://portal.tpu.ru/SHARED/i/INTROBOB

https://famous-scientists.ru/5526