Инверсионно-вольтамперометрический анализ микрообъектов, слоев кристаллов и пленок: различия между версиями

Материал из Электронная энциклопедия ТПУ
Перейти к навигации Перейти к поиску
(Новая страница: «'''Инверсионно-вольтамперометрический анализ микрообъектов, слоев кристаллов и пленок'''…»)
 
Нет описания правки
Строка 7: Строка 7:
==Литература==
==Литература==


Гагарин А.В. Профессора Томского политехнического университета. Биографический справочник. Т.3, ч. 1. Томск: Изд-во ТПУ, 2005-326 стр.
[[Гагарин Александр Вячеславович|Гагарин А.В.]] Профессора Томского политехнического университета. Биографический справочник. Т.3, ч. 1. Томск: Изд-во ТПУ, 2005-326 стр.

Версия от 08:53, 12 августа 2021

Инверсионно-вольтамперометрический анализ микрообъектов, слоев кристаллов и пленок – научное направление в области аналитической химии, развитием которого в Томском политехническом институте занимался профессор кафедры аналитической химии А.А. Каплин.

В частности, предложенный А.А. Каплиным анализ технологических сред материалов микроэлектроники получил широкое распространение и применение в аналитической практике. Некоторые из приемов анализа легли в основу созданных им и его учениками инверсионно-вольтамперометрических методик (КХА-различных объектов, в том числе продуктов питания и товаров народного потребления.

Проводимые А.А. Каплиным исследования по развитию способов анализа сделали его конкурентноспособным к широко распространенным методом атомной абсорбции и атомноэмиссионной спектроскопии. При его непосредственном участии и под его руководством разработано 48 методик анализа материалов высокой частоты, кристаллов и пленок, большая часть из них использована в производстве, получены акты о внедренни на предприятиях в НИИ электронной и химической промышленности, цветной металлургии, сан.эпидстанции.

Литература

Гагарин А.В. Профессора Томского политехнического университета. Биографический справочник. Т.3, ч. 1. Томск: Изд-во ТПУ, 2005-326 стр.