Капранов Борис Иванович: различия между версиями
Pvp (обсуждение | вклад) Нет описания правки |
Pvp (обсуждение | вклад) Нет описания правки |
||
(не показано 12 промежуточных версий этого же участника) | |||
Строка 4: | Строка 4: | ||
|Оригинал имени = | |Оригинал имени = | ||
|Фото = I385.jpg | |Фото = I385.jpg | ||
|Ширина = | |Ширина = 220px | ||
|Подпись = | |Подпись = | ||
|Дата рождения = | |Дата рождения = 09.05.1941 г. | ||
|Место рождения = | |Место рождения = | ||
| Дата смерти = | | Дата смерти = | ||
Строка 20: | Строка 20: | ||
|Награды и премии = | |Награды и премии = | ||
}} | }} | ||
'''Капранов Борис Иванович''' – доктор технических наук, ведущий эксперт Отделения контроля и диагностики [[Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности|Инженерной школы неразрушающего контроля и безопасности]] [[ТПУ|Томского политехнического университета]]. | '''Капранов Борис Иванович''' (р. 09.05.1941 г.) – доктор технических наук, ведущий эксперт Отделения контроля и диагностики [[Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности|Инженерной школы неразрушающего контроля и безопасности]] [[ТПУ|Томского политехнического университета]]. | ||
==Биография== | ==Биография== | ||
Строка 30: | Строка 30: | ||
С 1963 г. - ст. лаборант НИС. | С 1963 г. - ст. лаборант НИС. | ||
С 1968 г. - инженер НИИ ЭИ. | С 1968 г. - инженер [[НИИ интроскопии при ТПУ|НИИ ЭИ]]. | ||
С 1972 г. - старший менженер, руководитель группы, заместитель руководителя лаборатории, заведующий сектором, заведующий лабораторией НИИ интроскопии при ТПИ. | С 1972 г. - старший менженер, руководитель группы, заместитель руководителя лаборатории, заведующий сектором, заведующий лабораторией [[НИИ интроскопии при ТПУ|НИИ интроскопии]] при ТПИ. | ||
С 1986 г. - доцент кафедры ФМПК ТПУ. | С 1986 г. - доцент кафедры физических методов и приборов качества (ФМПК) ТПУ. | ||
В 2002 - 2018 гг. - профессор кафедры ФМПК. | В 2002 - 2018 гг. - профессор кафедры ФМПК. | ||
Строка 56: | Строка 56: | ||
https://famous-scientists.ru/5526 | https://famous-scientists.ru/5526 | ||
[[Категория:Родившиеся 9 мая]] | |||
[[Категория:Родившиеся в 1941 году]] | |||
[[Категория:преподаватели]] | [[Категория:преподаватели]] | ||
[[Категория:профессора]] | [[Категория:профессора]] | ||
[[Категория:Профессора кафедры физических методов и приборов контроля качества]] | |||
[[Категория:Физики]] | [[Категория:Физики]] | ||
[[Категория:Доктора технических наук]] | [[Категория:Доктора технических наук]] | ||
[[Категория:Сотрудники НИИ интроскопии]] | [[Категория:Сотрудники НИИ интроскопии]] | ||
[[Категория:Физики]] | [[Категория:Физики]] | ||
[[Категория:Томские ученые]] | |||
[[Категория:Выпускники Томского государственного университета]] | |||
[[Категория:Заведующие лабораториями]] | |||
[[Категория:Сотрудники Отделения контроля и диагностики]] | |||
[[Категория:Профессора Отделения контроля и диагностики]] |
Текущая версия от 08:52, 20 февраля 2024
Капранов Борис Иванович | |
![]() | |
Дата рождения: |
09.05.1941 г. |
---|---|
Научная сфера: |
физика |
Место работы: |
ТПУ |
Учёная степень: |
доктор технических наук |
Учёное звание: |
профессор |
Альма-матер: |
ТГУ |
Капранов Борис Иванович (р. 09.05.1941 г.) – доктор технических наук, ведущий эксперт Отделения контроля и диагностики Инженерной школы неразрушающего контроля и безопасности Томского политехнического университета.
Биография
В 1970 г. окончил Томский государственный университет по специальности "Физика- электроника».
C 1962 г. – лаборант НИС.
С 1963 г. - ст. лаборант НИС.
С 1968 г. - инженер НИИ ЭИ.
С 1972 г. - старший менженер, руководитель группы, заместитель руководителя лаборатории, заведующий сектором, заведующий лабораторией НИИ интроскопии при ТПИ.
С 1986 г. - доцент кафедры физических методов и приборов качества (ФМПК) ТПУ.
В 2002 - 2018 гг. - профессор кафедры ФМПК.
С 2018 г. - ведущий эксперт Отделения контроля и диагностики.
Научная деятельность
Основное направление работ - использование обратно - рассеянного рентгеновского и гамма излучений для контроля объектов в условиях одностороннего доступа.
Тема докторской диссертации - томография с использованием комптоновского обратного рассеяния.
По результатам работ опубликовано более 60 научных трудов, получено 18 авторских свидетельств и патентов. Под его руководством создана серия приборов для контроля качества неметаллических материалов и покрытий, которые в настоящее время успешно используются на предприятиях аэрокосмической отрасли.
Награды
За большой вклад в развитие технологий контроля награждён Президиумом Федерации космонавтики России медалью им. академика Макеева В.П.
Ссылки
- Родившиеся 9 мая
- Родившиеся в 1941 году
- Преподаватели
- Профессора
- Профессора кафедры физических методов и приборов контроля качества
- Физики
- Доктора технических наук
- Сотрудники НИИ интроскопии
- Томские ученые
- Выпускники Томского государственного университета
- Заведующие лабораториями
- Сотрудники Отделения контроля и диагностики
- Профессора Отделения контроля и диагностики