Ширяев Владимир Васильевич

Ширяев Владимир Васильевич
Дата рождения:	1948г.
Место рождения:	Кемеровская обл.
Место работы:	ТПУ
Учёная степень:	кандидат технических наук
Учёное звание:	доцент
Альма-матер:	ТПУ

Ширяев Владимир Васильевич (р. в 1948г., Кемеровская обл.) – кандидат технических наук, доцент кафедры информационно-измерительной техники, ведущий инженер лаборатории тепловых методов контроля № 43 Томского политехнического университета.

Биография

В 1972 г. окончил Физико-технический факультет Томского политехнического института по специальности «Дозиметрия и защита». В 1972-1975 гг. - инженер Специализированного управления по монтажу и наладке радиационной техники. С 1975 г. работает в лаборатории инфракрасной термографии НИИ интроскопии Томского Политехнического университета в должностях инженер, старший инженер, старший научный сотрудник. В 1986 г. защитил диссертацию на соискание степени кандидата технических наук. В 1997 г. был избиран доцентом кафедры Информационно-измерительной техники Электрофизического факультета Томского политехнического университета.

Научная деятельность

Разработанные В.В. Ширяевым компьютерные программы как для моделирования процессов так и для обработки данных теплового контроля пользуются популярностью в научной среде. Научный профиль лаборатории № 43 ТПУ, ведущим инженером которой является Ширяев: разработка теории теплового контроля и методик его применения в медицине, строительстве, энергетике и авиакосмической технике, а также организация курсов по ИК термографии и тепловому контролю в России и других странах.

Педагогическая деятельность

Является преподавателем кафедры Информационно-измерительной техники по учебным дисциплинам: «Вычислительные средства в ИИТ», «Компьютерные средства измерений».

Труды

2008-2010гг.

Вавилов В.П., Гуо Синьянь, Ширяев В.В., Нестерук Д.А. Тепловой контроль коррозии в алюминиевых панелях самолетов //Дефектоскопия, 2008, - № 4. - c. 48-57.

Вавилов В.П., Нестерук Д.А., Ширяев В.В., Swiderski W. Применение Фурье-анализа и метода анализа главных компонент для обработки данных динамического теплового контроля //Известия Томского политехнического университета, 2008 - т. 312, - № 2(Приложение). - c. 279-285.

Вавилов В.П., Нестерук Д.А., Ширяев В.В., Swiderski W. Применение метода анализа главных компонент для обработки данных динамического теплового контроля //Дефектоскопия, 2008, - № 7. -c. 93-102.

Вавилов В.П., Торгунаков В.Г., Иванов А.И., Нестерук Д.А., Ширяев В.В. Работы в области теплового неразрушающего контроля в Томском НИИ интроскопии //Известия Томского политехнического университета, 2008 - т. 312, - № 2(Приложение). - c. 272-279.

Вавилов В.П., Нестерук Д.А., Ширяев В.В., Иванов А.И., Swiderski W. Тепловая (инфракрасная) томография: терминология, основные процедуры и применение для неразрушающего контроля композиционных материалов. //Дефектоскопия, 2010, - № 3.

Награды

Награжден юбилейной медалью «100 лет со дня открытия Томского Политехнического университета» и Почетной Грамотой Министерства образования и науки РФ.

Ссылки

http://portal.tpu.ru/SHARED/s/SHIRYAEV

http://portal.tpu.ru/departments/laboratory/tmk