Чинь Ван Бак: различия между версиями
Admin (обсуждение | вклад) Нет описания правки |
Pvp (обсуждение | вклад) Нет описания правки |
||
Строка 3: | Строка 3: | ||
|Оригинал имени = | |Оригинал имени = | ||
|Фото = 1431321014-1-.jpg | |Фото = 1431321014-1-.jpg | ||
|Ширина = | |Ширина = 200px | ||
|Подпись = | |Подпись = | ||
|Дата рождения = 10.08.1989 г. | |Дата рождения = 10.08.1989 г. | ||
Строка 51: | Строка 51: | ||
http://i.moytomsk.ru/school/id1431321014 | http://i.moytomsk.ru/school/id1431321014 | ||
[[Категория:Родившиеся 10 августа]] | |||
[[Категория: выпускники]] | [[Категория: выпускники]] |
Версия от 02:44, 28 января 2021
Чинь Ван Бак | |
![]() | |
Дата рождения: |
10.08.1989 г. |
---|---|
Научная сфера: |
приборостроение |
Альма-матер: |
ТПУ |
Чинь Ван Бак (р. 10.08.1989 г.) – специалист в области приборостроения, лучший выпускник Томска 2015 г. в номинации «Отличники».
Образование
В 2015 г. окончил Институт неразрушающего контроля Томского политехнического университета по специальности «Приборостроение».
Научная деятельность
1. международная научно-техническая конференция "INTERMATIC-2014", 1-5. декабря 2014. Диплом участника.
2. форум «Инженеры будущего 2015», в котором АО «Росэлектроника», 29. 6-9. 7. 2014 Диплом участника.
3. Всероссийская научно-техническая конференция молодых ученых, аспирантов и студентов «Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность»-2014.
Научные труды:
1. Математическая модель широкодиапазонного трансмиссионного рентгеновского измерителя толщины;
2. Повышение эффективность размагничивания ферромагнитных материалов.