Капранов Борис Иванович: различия между версиями
Pvp (обсуждение | вклад) Нет описания правки |
Pvp (обсуждение | вклад) Нет описания правки |
||
| Строка 63: | Строка 63: | ||
[[Категория:Сотрудники НИИ интроскопии]] | [[Категория:Сотрудники НИИ интроскопии]] | ||
[[Категория:Физики]] | [[Категория:Физики]] | ||
[[Категория:Томские ученые]] | |||
[[Категория:Выпускники Томского государственного университета]] | [[Категория:Выпускники Томского государственного университета]] | ||
[[Категория:Заведующие лабораториями]] | [[Категория:Заведующие лабораториями]] | ||
[[Категория:Сотрудники Отделения контроля и диагностики]] | [[Категория:Сотрудники Отделения контроля и диагностики]] | ||
Версия от 05:37, 15 декабря 2020
| Капранов Борис Иванович | |
 | |
| Научная сфера: |
физика |
|---|---|
| Место работы: |
ТПУ |
| Учёная степень: |
доктор технических наук |
| Учёное звание: |
профессор |
| Альма-матер: |
ТГУ |
Капранов Борис Иванович – доктор технических наук, ведущий эксперт Отделения контроля и диагностики Инженерной школы неразрушающего контроля и безопасности Томского политехнического университета.
Биография
В 1970 г. окончил Томский государственный университет по специальности "Физика- электроника».
C 1962 г. – лаборант НИС.
С 1963 г. - ст. лаборант НИС.
С 1968 г. - инженер НИИ ЭИ.
С 1972 г. - старший менженер, руководитель группы, заместитель руководителя лаборатории, заведующий сектором, заведующий лабораторией НИИ интроскопии при ТПИ.
С 1986 г. - доцент кафедры ФМПК ТПУ.
В 2002 - 2018 гг. - профессор кафедры ФМПК.
С 2018 г. - ведущий эксперт Отделения контроля и диагностики.
Научная деятельность
Основное направление работ - использование обратно - рассеянного рентгеновского и гамма излучений для контроля объектов в условиях одностороннего доступа.
Тема докторской диссертации - томография с использованием комптоновского обратного рассеяния.
По результатам работ опубликовано более 60 научных трудов, получено 18 авторских свидетельств и патентов. Под его руководством создана серия приборов для контроля качества неметаллических материалов и покрытий, которые в настоящее время успешно используются на предприятиях аэрокосмической отрасли.
Награды
За большой вклад в развитие технологий контроля награждён Президиумом Федерации космонавтики России медалью им. академика Макеева В.П.