Разработка ядерно-физических и атомно-физических методов анализа: различия между версиями

Перейти к навигации Перейти к поиску
нет описания правки
Нет описания правки
Нет описания правки
Строка 18: Строка 18:
Наряду с ядерными методами в институте развивались атомно-физические методы анализа состава и структуры поверхности. В 1974 г. начались теоретические исследования по обоснованию применимости к анализу поверхности методов электронной Оже-спектроскопии рассеяния ионов низких энергий, а с 1975 г. – метода масс-спектрометрии вторичных ионов.
Наряду с ядерными методами в институте развивались атомно-физические методы анализа состава и структуры поверхности. В 1974 г. начались теоретические исследования по обоснованию применимости к анализу поверхности методов электронной Оже-спектроскопии рассеяния ионов низких энергий, а с 1975 г. – метода масс-спектрометрии вторичных ионов.


Тесная связь выполняемых работ с потребностями производства установилась с 1979 г., когда метод вторично-ионной масс-спектроскопии начал широко применяться для анализа полупроводниковых материалов. Работа осуществлялась на основе сотрудничества с НИИ полупроводниковых приборов и [[СФТИ|СФТИ]]. Были выполнены исследования межфазного взаимодействия на границе металл-арсенид галлия при температурной обработке, лазером и электронно-лучевом ожиге.
Тесная связь выполняемых работ с потребностями производства установилась с 1979 г., когда метод вторично-ионной масс-спектроскопии начал широко применяться для анализа полупроводниковых материалов. Работа осуществлялась на основе сотрудничества с НИИ полупроводниковых приборов и СФТИ. Были выполнены исследования межфазного взаимодействия на границе металл-арсенид галлия при температурной обработке, лазером и электронно-лучевом ожиге.


==Литература==
==Литература==


Становление и развитие научных школ Томского политехнического университета: Исторический очерк/под ред. Ю.П. Похолкова, В.Я. Ушакова. – Томск: ТПУ, 1996. – 249 с.
Становление и развитие научных школ Томского политехнического университета: Исторический очерк/под ред. Ю.П. Похолкова, В.Я. Ушакова. – Томск: ТПУ, 1996. – 249 с.

Навигация