Жилин Николай Семенович: различия между версиями

Перейти к навигации Перейти к поиску
нет описания правки
Нет описания правки
Метка: ручная отмена
Нет описания правки
 
Строка 47: Строка 47:


- методология метрологического обеспечение наноэлектроники.  
- методология метрологического обеспечение наноэлектроники.  
Разработал теоретические основы и базовые принципы практического построения контрольно-диагностических и измерительных комплексов на базе систем фазовой синхронизации, а также устройств метрологического обеспечения с высокими (эталонными) точностями. Под его руководством были разработаны быстродействующие автоматизированные системы для измерений, контроля и диагностики больших сверхскоростных интегральных схем с высокими метрологическими характеристиками, а также системы их метрологического обеспечения.


Автор более 210 научных работ, из них 2 монографии, 56 авторских свидетельств на изобретения, 10 учебных пособий, более 70 изобретений.
Автор более 210 научных работ, из них 2 монографии, 56 авторских свидетельств на изобретения, 10 учебных пособий, более 70 изобретений.

Навигация