Капранов Борис Иванович: различия между версиями

Перейти к навигации Перейти к поиску

Капранов Борис Иванович (посмотреть исходный код)

Версия от 08:52, 20 февраля 2024

2913 байт убрано ,  20 февраля 2024
нет описания правки
Нет описания правки
Нет описания правки
 
(не показаны 24 промежуточные версии этого же участника)
Строка 4: Строка 4:
  |Оригинал имени      =  
  |Оригинал имени      =  
  |Фото                = I385.jpg
  |Фото                = I385.jpg
  |Ширина              =  
  |Ширина              = 220px
  |Подпись              =  
  |Подпись              =  
  |Дата рождения        =  
  |Дата рождения        = 09.05.1941 г.
  |Место рождения      =  
  |Место рождения      =  
| Дата смерти            =
| Дата смерти            =
Строка 15: Строка 15:
  |Учёная степень      = доктор технических наук
  |Учёная степень      = доктор технических наук
  |Учёное звание        = профессор
  |Учёное звание        = профессор
  |Альма-матер          =  
  |Альма-матер          = ТГУ
|Научный руководитель =  
|Научный руководитель =  
  |Знаменитые ученики  =  
  |Знаменитые ученики  =  
  |Награды и премии    =  
  |Награды и премии    =  
}}
}}
'''Капранов Борис Иванович''' – доктор технических наук, профессор кафедры физических методов и приборов контроля качества ТПУ.
'''Капранов Борис Иванович''' (р. 09.05.1941 г.) – доктор технических наук, ведущий эксперт Отделения контроля и диагностики [[Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности|Инженерной школы неразрушающего контроля и безопасности]]    [[ТПУ|Томского политехнического университета]].


==Биография==
==Биография==


Начал свою трудовую деятельность в Томском политехническом университете с 1962 г. лаборантом НИС, а затем , с 1968 г. переведён инженером НИИ ЭЙ. В 1972 г. переведён на должность старшего инженера, в 1973 г. - на должность руководителя группы, в 1975 г. - на должность зам. руководителя лаборатории, а в 1981 г. избран по конкурсу на должность заведующего лабораторией №82 НИИ ЭИ.  
В 1970 г. окончил Томский государственный университет по специальности "Физика- электроника».
В 1986 г. избран по конкурсу на должность доцента кафедры «Физические методы и приборы контроля качества».
C 1962 г. – лаборант НИС.


В 1986 г. зачислен в очную докторантуру ТПУ, в 2002 г., после защиты докторской диссертации, зачислен по контракту на должность профессора кафедры ФМПК.
С 1963 г. - ст. лаборант НИС.


За время работы проявил себя как педагог, организатор учебного процесса и научных исследований. Капрановым Б.И. разработаны и читаются 3 курса для студентов кафедры ФМПК с учётом новых информационных технологий: компьютерные тренажёры, дистанционные курсы с использованием WEB технологий. Им издано 4 учебных пособия, одно из которых рекомендовано УМО для высших учебных заведений. [1]  
С 1968 г. - инженер [[НИИ интроскопии при ТПУ|НИИ ЭИ]].


==Кафедра ФМПК==
С 1972 г. - старший менженер, руководитель группы, заместитель руководителя лаборатории, заведующий сектором, заведующий лабораторией  [[НИИ интроскопии при ТПУ|НИИ интроскопии]] при ТПИ.


Кафедра обеспечивает стопроцентное распределение выпускников. При ней имеется аспирантура и докторантура. Ежегодно обучаются 5 аспирантов, и 1-2 докторанта. Сотрудники кафедры участвуют в международной программе ТПУ Electrical Engineering и ведут подготовку кадров в рамках Всемирного технического университета (ВТУ) под эгидой ЮНЕСКО. По окончании ВТУ выпускники получают диплом (сертификат), признаваемый во всех странах мира.  
С 1986 г. - доцент кафедры физических методов и приборов качества (ФМПК) ТПУ.


Кафедра входит в состав учебно-научно-производственного комплекса совместно с НИИ интроскопии, Аттестационным региональным центром специалистов по неразрушающему контролю, Центром повышения квалификации специалистов по управлению качеством, филиалами кафедры на Сибирском химическом комбинате и Томском нефтехимическом заводе, и широко использует их материальную базу (оборудование), специалистов, тематику для выполнения лабораторных, курсовых, выпускных квалификационных работ. Кафедра ФМПК активно участвует в программах сотрудничества со Всемирным технологическим университетом и Пражским техническим университетом.  
В 2002 - 2018 гг. - профессор кафедры ФМПК.


Кафедра имеет тесные научные и производственные связи с научно-исследовательским институтом интроскопии (НИИ ИН), аттестационным региональным центром по аттестации и переаттестации дефектоскопистов на 1 и 2 уровни (АРЦ). [2]
С 2018 г. - ведущий эксперт Отделения контроля и диагностики.


==Научная деятельность==
==Научная деятельность==


К. ведёт большую научно-исследовательскую работу. Основное направление работ - использование обратно - рассеянного рентгеновского и гамма излучений для контроля объектов в условиях одностороннего доступа. Тема докторской диссертации - томография с использованием комптоновского обратного рассеяния. По результатам работ опубликовано более 60 научных трудов, получено 18 авторских свидетельств и патентов. Под его руководством создана серия приборов для контроля качества неметаллических материалов и покрытий, которые в настоящее время успешно используются на предприятиях аэрокосмической отрасли. За большой вклад в развитие технологий контроля награждён Президиумом Федерации космонавтики России медалью им. академика Макеева В.П.
Основное направление работ - использование обратно - рассеянного рентгеновского и гамма излучений для контроля объектов в условиях одностороннего доступа.  
Научными исследованиями под руководством Капранова Б.И. ежегодно занимаются выпускники кафедры ФМПК, аспиранты. Тематика исследований поддерживается грантами Российского фонда фундаментальных исследований. [1]


==Публикации==
Тема докторской диссертации - томография с использованием комптоновского обратного рассеяния.


Общее количество (60);
По результатам работ опубликовано более 60 научных трудов, получено 18 авторских свидетельств и патентов. Под его руководством создана серия приборов для контроля качества неметаллических материалов и покрытий, которые в настоящее время успешно используются на предприятиях аэрокосмической отрасли.


Капранов Б.И., Короткова И.А., Филинов В.Н., Маклашевский В.Я. Пространственно-статистическая неопределенность реконструкции в комптоновской томографии // Контроль. Диагностика, 2003. - № 12. -с. 37–42 [3]
==Награды==


==Звания==
За большой вклад в развитие технологий контроля награждён Президиумом Федерации космонавтики России медалью им. академика Макеева В.П.


Член Академии проблем качества. [3]
==Ссылки==
http://portal.tpu.ru/SHARED/i/INTROBOB


==Ссылки==
https://famous-scientists.ru/5526
[[Категория:Родившиеся 9 мая]]


1. http://www.famous-scientists.ru/5526
[[Категория:Родившиеся в 1941 году]]


2. http://today.tpu.ru/tpu-structure/instituty-fakultety-kafedry/ink/fmpk/
[[Категория:преподаватели]]
[[Категория:профессора]]
[[Категория:Профессора кафедры физических методов и приборов контроля качества]]
[[Категория:Физики]]
[[Категория:Доктора технических наук]]
[[Категория:Сотрудники НИИ интроскопии]]
[[Категория:Физики]]
[[Категория:Томские ученые]]


3. http://past.tpu.ru/php/science/58064.htm
[[Категория:Выпускники Томского государственного университета]]
[[Категория:Заведующие лабораториями]]
[[Категория:Сотрудники Отделения контроля и диагностики]]
[[Категория:Профессора Отделения контроля и диагностики]]
Источник — https://wiki.tpu.ru/wiki/Служебная:Сравнение_версий/6313...133835

Навигация